简介：

Tecnai G2 F30 是一个真正多功能、多用户环境的300kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 允许用户在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
              除了具有200kV的各种优点外, Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压, 可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30使用户可以在原子尺度的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

技术参数：
              1.信息分辨率极限　　U-TWIN 0.10nm　　S-TWIN 0.14nm
              2.点分辨率　　U-TWIN 0.17nm　　S-TWIN 0.20nm
              3.高分辨STEM分辨率　　U-TWIN 0.14nm　　S-TWIN 0.19nm
              4.样品最大倾角 S-TWIN +/- 40^o

主要特点：
              1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析
              2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术
              3.强样品穿透能力
              4.最佳性能的能量过滤透射电镜和电子能量损失谱分析
              5.超稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中和样品台
              6.多用户环境下的方便和安全操作
              7.适用于大量样品的快捷分析
              8.将来技术, 今日应用
              9.基于Windows XP的用户界面